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详细介绍
归一化植被指数(NDVI)测量仪-冠层尺度测量
归一化植被指数(NDVI)测量仪可在近地面对冠层归一化植被指数（NDVI）进行长期定位监测。NDVI对绿色植被反应敏感，常被用于研究植被的生长状态。NDVI测量仪传感器制作工艺考究、坚固耐用，可在各种恶劣天气条件下正常工作；其体积小巧，安装简易方便；性价比高，可在多处布点。
工作原理
NDVI是由冠层对近红外波长（810nm）的反射率与红光波长（650nm）的反射率之差比上两者之和计算得到，因此需同时安装向上和向下两个传感器来监测冠层对这两个波长的反射率。
向上的NDVI传感器检测810nm和650nm的光照强度。测量结果代表了来自天空的入射光强度。传感器经过余弦校正，具有半球视场。安装时须保证视场内只有天空，没有冠层和其他地物。
NDVI传感器也是检测810nm和650nm的光照强度。测量结果代表了来自冠层的反射光强度。传感器的视野范围被限定在30°以内，这种限定使得传感器可以准确朝向待测冠层。
产品特点
耗电量低
性价比高
支持SDI-12通讯协议
自动测量、收集数据，校准信息保存在传感器内
环氧树脂密封工艺，防水，耐受恶劣天气，可在野外长期布设
若使用ZL6数据采集器，可通过互联网终端实现远程数据查看和下载
应用领域
单株植物或群落冠层的归一化植被指数（NDVI）动态监测
监测植被返青、衰老和受胁迫状态
冠层有效辐射截获量
冠层生长物候监测
冠层叶面积指数
冠层生物量积累
技术参数
| 校准系数（灵敏度的倒数） | 逐个传感器校准，数据存储在固件中 |
| 校准不确定性 | ± 5 % |
| 波长范围 | 红光检测器650 nm ± 5 nm；半峰宽（FWHM）65 nm；NIR检测器 810 nm ± 5 nm；半峰宽（FWHM）65 nm |
| 测量范围 | 2倍全日照 |
| 测量重复性 | < 1 % |
| 长期漂移 | 每年< 2 % |
| 响应时间 | < 0.6 s |
| 视场范围 | 向上180°，向下30° |
| 方向（余弦）响应 | ± 2 % @ 45°, ± 5 % @ 75° 天顶角 |
| 温度响应 | < 0.1 % 每 ℃ |
| 输出 | SDI-12 |
| 供电 | 5.5 ~ 24 V DC |
| 外壳 | 带有丙烯酸散射窗的阳极铝 |
| IP 防护 | IP68 |
| 工作环境 | -40 ~ 70 ℃; 0 ~ 100 % RH |
| 尺寸 | S2-411-SS（向上）：直径 30.5 mm, 高37 mm S2-412-SS（向下）：直径 30.5 mm, 高34.5 m |
| 重量（包含5米缆线） | 140 g |
| 缆线 | 5米屏蔽双绞线；TPR护套和不锈钢接口 |
| 兼容数采（须另购） | METER EM60 系列, ZL6 系列, ZSC, ProCheck, Campbell Scientific |
订购指南
传感器： S2-411-SS向上半球视野传感器，S2-412-SS向下视场光阑传感器
数采：ZL6数据采集器。
另有PRI光化学反射指数传感器可选购。
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产地与厂家：美国METER公司
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